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  • BladeCam2-HR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150nm

    BladeCam2-HR-UV CMOS基礎型光斑分析儀相機 190-1150nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-09
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  • BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-09
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  • BladeCam2-XHR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-XHR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

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  • Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機 (1460 x 1932)

    Atik VS系列 CCD高分辨率長曝光工業(yè)相機 (1460 x 1932) 產(chǎn)品總覽 這款柔性冷卻相機支持多種索尼CCD傳感器，滿足了大多數(shù)科學原始設備制造商和顯微鏡用戶的需求。

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  • FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振）

    FS70L4 用于半導體檢測顯微鏡（顯微OCT掃頻測振） 特點 采用Mitutoyo遠場校正鏡頭 三端輸出設計可輕松接收視頻 轉盤可接最多四個物鏡

    更新時間：2024-12-09
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